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X荧光镀层测厚仪EDX,专门针对金属合金、铝型材、塑料等材料镀层分析、达克罗涂覆层分析的普及机型,可盲测(即:无需标准样品标定),即可对客户样品镀层膜厚测试、基材成分分析,降低客户购买标准样品(尤其是特殊样品)成本。精心设计的开放式工作曲线功能,特别适用于工艺复杂材料的工厂镀层、涂层的制程控制。
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